La microstructure des comprimés révelée par la tomographie synchrotron
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Cette formation est destinée aux ingénieurs, techniciens, chercheurs et spécialistes du contrôle qualité qui souhaitent acquérir ou consolider leurs connaissances en tomographie rayons X appliquée au contrôle non destructif (CND) et à la caractérisation 3D des matériaux.
Aucun prérequis spécifique en tomographie n’est nécessaire. Une culture scientifique ou technique est recommandée afin de tirer pleinement profit des notions abordées. La formation commence par les fondamentaux de la physique des rayons X et du principe de la tomographie.
La formation permet de comprendre le fonctionnement des différentes technologies de tomographie rayons X, de choisir les paramètres d’acquisition adaptés à une application donnée, d’interpréter les images 3D obtenues et d’identifier les possibilités offertes par la tomographie pour le contrôle non destructif et la caractérisation des matériaux.
Les participants découvrent les principales familles de tomographes : tomographie industrielle, micro-foyer, nano-foyer, tomographie synchrotron et tomographie 4D. Les avantages, limites et domaines d’application de chaque technologie sont expliqués afin de faciliter le choix de la solution la plus adaptée.
Les connaissances acquises sont utiles dans de nombreux secteurs : aéronautique, automobile, métallurgie, matériaux composites, énergie, électronique, pharmacie, cosmétique, recherche académique ou encore patrimoine. Toute activité nécessitant l’inspection interne d’un matériau ou d’une pièce peut bénéficier de la tomographie rayons X.
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