La spectrométrie de fluorescence des rayons-X en microfaisceaux (X-ray microfluorescence µXRF) est une technique de cartographie semi-quantitative à quantitative, très sensible qui permet d’identifier et de localiser des éléments chimiques (Z>11) dans tout type de matériaux.
La fluoresence des rayons-X (XRF) est un phénomène d’interaction des rayons-X (RX) avec la matière qui consiste en l’émission de photons d’énergie caractéristique (dans le domaine RX) que suit l’excitation des atomes par un faisceau de RX plus énergétique.
Microtomographie rayons X (µCT)
Spectroscopie infrarouge (FT-IR)
Microscopie électronique à balayage (SEM-FEG)
Microscopie à force atomique (AFM)
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