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Microscopie électronique à balayage

La microscopie électronique à balayage (SEM) est la technique de choix pour observer la surface des échantillons à très haute résolution, jusqu’au nanomètre. Les observations en  microscopie peuvent être couplées à une analyse par EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) qui résulte en une cartographie des éléments chimiques en surface.

Atouts de la microscopie électronique à balayage

  • Morphologie de surface
  • Haute résolution spatiale, meilleure que la microscopie optique
  • Cartographie des éléments chimiques en surface
  • Observations non destructives des échantillons fragiles
  • Pas de coating nécessaire contrairement au SEM standard

Mesures et analyses en microscopie électronique à balayage

  • Observations de produits déposés en film : aspect, continuité
  • Cartographie chimique en surface
  • Observation de la surface des cheveux et de la peau avant/après traitement
  • Localisation et identification de particules ou contaminants en surface
  • Caractérisation morphologique d’ingrédients et de produits organiques

L’expertise Novitom en microscopie électronique SEM-FEG

  • Préparation minutieuse des conditions expérimentales, adaptées à chaque typologie d’échantillon.
  • Analyse des données, basée sur le savoir-faire de nos experts en microscopie électronique.
  • Mise au point de protocoles d’analyse pour des échantillons aussi complexes que les échantillons biologiques, notamment peau et cheveu.
  • Offre de protocoles de mesures et d’analyses à façon.
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Types d’échantillons

  • Tout matériau solide ou semi-solide
  • Cheveux et produits associés
  • Stratum corneum et produits associés

Exemples d'études exploitant la microscopie MEB, MEB-EDX ou AFM

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Caractéristiques techniques

SEM-FEG

  • Tension : 0,02 à 30 kV
  • Grossissement : 12 à 1 000 000 X
  • Résolution : 0,8 nm à 15 kV et 2.0 nm à 1.2 kV
  • Temps d’acquisition typique : quelques secondes

EDX

  • Elément détectables : tous les éléments avec Z ≥ 6 (carbone)
  • Profondeur d’analyse de l’ordre du μm
  • Limite de détection : 0,5-2 % en poids pour la plupart des éléments
  • Analyse quantitative : 10 à 20 % maximum d’erreur relative
  • Temps d’acquisition typique : quelques minutes à dizaines de minutes (cartographie)

Complémentarité avec d'autres techniques

Microscopie à force atomique (AFM)

Microtomographie rayons X (µCT)

Fluorescence rayons X en microfaisceaux (µXRF)

Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)

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Expertise

Une équipe pluridisciplinaire experte des techniques analytiques utilisées par les scientifiques

Innovation

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Accompagnement

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