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Microscopie électronique à balayage

La microscopie électronique à balayage (SEM) est la technique de choix pour observer la surface des échantillons à très haute résolution, jusqu’au nanomètre. Les observations en  microscopie peuvent être couplées à une analyse par EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) qui résulte en une cartographie des éléments chimiques en surface.

Atouts de la microscopie électronique à balayage

  • Morphologie de surface
  • Haute résolution spatiale, meilleure que la microscopie optique
  • Cartographie des éléments chimiques en surface
  • Observations non destructives des échantillons fragiles
  • Pas de coating nécessaire contrairement au SEM standard

Mesures et analyses en microscopie électronique à balayage

  • Observations de produits déposés en film : aspect, continuité
  • Cartographie chimique en surface
  • Observation de la surface des cheveux et de la peau avant/après traitement
  • Localisation et identification de particules ou contaminants en surface
  • Caractérisation morphologique d’ingrédients et de produits organiques

L’expertise Novitom en microscopie électronique SEM-FEG

  • Préparation minutieuse des conditions expérimentales, adaptées à chaque typologie d’échantillon.
  • Analyse des données, basée sur le savoir-faire de nos experts en microscopie électronique.
  • Mise au point de protocoles d’analyse pour des échantillons aussi complexes que les échantillons biologiques, notamment peau et cheveu.
  • Offre de protocoles de mesures et d’analyses à façon.
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Types d’échantillons

  • Tout matériau solide ou semi-solide
  • Cheveux et produits associés
  • Stratum corneum et produits associés

Exemples d'études exploitant la microscopie MEB, MEB-EDX ou AFM

Soin anti-âge vus à travers l’organisation des fibres de collagène

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Novitom a développé un test original basé sur l’analyse…

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Renforcement des propriétés mécaniques du cheveu

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La technique de microscopie à forme atomique AFM est…

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Caractéristiques techniques

SEM-FEG

  • Tension : 0,02 à 30 kV
  • Grossissement : 12 à 1 000 000 X
  • Résolution : 0,8 nm à 15 kV et 2.0 nm à 1.2 kV
  • Temps d’acquisition typique : quelques secondes

EDX

  • Elément détectables : tous les éléments avec Z ≥ 6 (carbone)
  • Profondeur d’analyse de l’ordre du μm
  • Limite de détection : 0,5-2 % en poids pour la plupart des éléments
  • Analyse quantitative : 10 à 20 % maximum d’erreur relative
  • Temps d’acquisition typique : quelques minutes à dizaines de minutes (cartographie)

Complémentarité avec d'autres techniques

Diffusion des rayons-X aux petits (SAXS)

Microscopie à force atomique AFM

Microtomographie rayons-X (µCT)

Fluorescence rayons X en microfaisceaux (µXRF)
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NOVITOM : votre partenaire en R&D, imagerie et analyses avancées

Expertise

Une équipe pluridisciplinaire experte des techniques analytiques utilisées par les scientifiques

Innovation

Des approches analytiques originales pour vos développements de produits, de procédés, en contrôle ou marketing

Accompagnement

Connaissances et savoir-faire uniques en sciences analytiques et imagerie 2D-3D-4D