
Analyse cristallographique à haut débit par diffraction des rayons X
Nous sommes ravis d’annoncer la première utilisation industrielle par Novitom du dispositif haut-débit de diffraction de poudre (XRPD) à l’ESRF. Nous l’avons exploiter pour caractériser des poudres non standard, car les échantillons étaient des feuilles métalliques ! La diffraction des rayons X fournit des informations précieuses sur la structure cristalline,








