Qualité d’organisation du collagène de la peau
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Accueil » Articles et actualités » Analyse cristallographique à haut débit par diffraction des rayons X
Nous sommes ravis d’annoncer la première utilisation industrielle par Novitom du dispositif haut-débit de diffraction de poudre (XRPD) à l’ESRF.
Nous l’avons exploiter pour caractériser des poudres non standard, car les échantillons étaient des feuilles métalliques !
La diffraction des rayons X fournit des informations précieuses sur la structure cristalline, la composition de phase et la pureté des matériaux, permettant une identification précise des composés et une analyse des changements structurels. Grâce aux rayons X synchrotron, il est désormais possible de mesurer jusqu’à 1000 échantillons par heure !
Il s’agit d’une véritable révolution pour les industries qui s’appuient sur la caractérisation avancée des matériaux, telles que les matériaux pour les batteries, et bien d’autres encore, ouvrant la voie à d’innombrables applications dans de multiples secteurs.
Serez-vous les prochain bénéficiaire de cette méthode d’anamyse ?
Contactez-nous pour en savoir plus sur notre nouvelle offre à haut débit.
En tant que laboratoire indépendant, Novitom permet à tous types d’organisations d’accéder aux techniques de rayonnement synchrotron.
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