La diffraction en transmission des rayons X synchrotron est une technique de pointe qui exploite l’intensité exceptionnelle et la collimation élevée des faisceaux des rayons X produits par un synchrotron pour réaliser des mesures très précises de la structure cristalline des matériaux. Elle est particulièrement adaptée à la caractérisation des phases crystallines, présentes dans les matériaux solides.
La diffraction des rayons X permet de déterminer les organisations atomiques et moléculaires au sein d’un matériau à partir des intensités et directions des faisceaux déviés par les atomes.
Grâce à la brillance et à la résolution offertes par les faisceaux synchrotron, il est possible d’atteindre une très haute précision. La grande quantité de photons qui frappent les échantillons permet des analyses extrêmement rapides, jusqu’à 1 seconde pour les poudres et les tôles fines. Grâce à son énergie élevée, le faisceau peut traverser des matériaux de forte densité sur des épaisseurs significatives (entre 10 et 15 mm pour le nickel, 30 à 40 mm pour l’acier ou le titane, et jusqu’à 70 mm pour l’aluminium) ou à géométrie complexe.
L’apport unique du rayonnement synchrotron
Les diffractomètres pour mesures en réflexion ou transmission, en incidence rasante ou aux petits angles se trouvent en tant qu’équipements de laboratoire ou en installation synchrotron (respectivement plus accessible ou plus performant).
Microscopie électronique à balayage basse tension (SEM-FEG)
Microtomographie rayons-X (µCT)
Microtomographie rayons-X in situ
Microscopie à force atomique (AFM)
Diffusion des rayons-X aux petits (SAXS)
Fluorescence rayons-X en microfaisceaux (µXRF)
Spectroscopies infrarouge (FT-IR) et ultraviolet (UV)
Une équipe pluridisciplinaire experte des techniques analytiques utilisées par les scientifiques.
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