Microscopie SEM-FEG

La microscopie électronique à balayage (SEM) est une technique extrêmement puissante pour observer la surface des échantillons à très haute résolution, jusqu’au nanomètre. Un microscope électronique SEM-FEG se caractérise par une source d’électrons spéciale (FEG pour Field Emission Gun) permettant de travailler à basse tension.

La microscopie électronique SEM-FEG est donc particulièrement bien adaptée pour la plupart des matériaux organiques fragiles qui ont une température de fusion basse.

Novitom s’est spécialisée dans la caractérisation de nano-particules, de revêtements organiques, d’observation de la surface des cheveux et de la peau.

Applications

  • Etat de surface avant/après traitement
  • Observation de gels déposés en film
  • Observation de nano-particules
  • Caractérisation chimique de nano-particules
  • Imagerie de tissus biologiques
  • Détection de bactéries
  • Dispersion d’ingrédients dans poudres compactées