CND

La micro-tomographie X synchrotron est actuellement une des technologies de contrôle non-destructif (CND) les plus avancée. Elle permet non seulement de contrôler la présence de défauts au sein d’une pièce, mais elle permet aussi de les localiser pour pouvoir ensuite les caractériser par analyse d’image.

L’avantage de la microtomographie X synchrotron est de pouvoir atteindre des résolutions micrométriques tout en conservant un fort pouvoir de pénétration. Ceci permet de sonder le cœur de pièces denses telles que des pièces métalliques ou multi-matériaux et d’y détecter tout type de micro-défauts.

Novitom accompagne également les clients qui souhaitent équiper une de leurs lignes de production d’une station de contrôle par rayons X en proposant des outils de traitement et d’analyse d’images sur mesure associés à des équipements fournis par l’un de ses partenaires.

Quelques cas d’étude

  • État santé matière pièces composites
  • Contrôle de défauts sur pièce métalliques
  • Caractérisation de cracks
  • Analyse de défaillance
  • Contrôle dimensionnel/comparaison CAO
  • Localisation de défauts